產(chǎn)品目錄
聯(lián)系方式
聯(lián)系人：朱經(jīng)理
手機(jī)：15921165535
電話：86-021-58951071
傳真：86-021-50473901
地址：上海市浦東外高橋自貿(mào)區(qū)富特東三路526號(hào)5號(hào)樓311室
郵箱：814294500@qq.com
產(chǎn)品中心
| 品牌 | 其他品牌 | 儀器種類 | 臺(tái)式 |
|---|---|---|---|
| 激發(fā)方式 | 火花 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
| 檢測(cè)器類 | 其他 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件 |
SPECTROLAB S直讀光譜儀
作為電弧/火花創(chuàng)新技術(shù)的**者，40多年來(lái)，SPECTRO全心投入開(kāi)發(fā)出**的發(fā)射光譜儀。今天，斯派克公司完美引入CMOS探測(cè)器技術(shù)，*改變了高*電弧/火花分析技術(shù)的走向及未來(lái)。在所有同類分析儀中，SPECTROLAB S所提供分析速度超出想象，元素檢測(cè)限低*限，同時(shí)她也可以提供很長(zhǎng)的正常運(yùn)行時(shí)間和非常具有前瞻性的靈活性。
SPECTROLAB S 擁有**個(gè)基于CMOS的探測(cè)器的記錄系統(tǒng)，該系統(tǒng)非常適合于高*金屬分析。從微量元素到多基體應(yīng)用，它提供了非常快速、高度準(zhǔn)確、異常靈活的技術(shù)選擇。樣品的分析速度是儀器良好性的重要標(biāo)志，SPECTROLAB S的推出*了金屬分析市場(chǎng)對(duì)速度的需求。例如：當(dāng)檢測(cè)低合金鋼時(shí)，它可以在20秒或更短的時(shí)間內(nèi)提供高準(zhǔn)確度的測(cè)量值！從技術(shù)指標(biāo)和實(shí)際使用效果看，SPECTROLAB S均是目前金屬冶煉廠*選的、高性能的光譜儀。對(duì)于金屬再加工生產(chǎn)商、汽車和航空航天制造商、以及成品和半成品、電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體等制造商來(lái)說(shuō)，她給出的解決方案同樣出色。
關(guān)鍵特性：
?20秒內(nèi)獲得高準(zhǔn)確度的結(jié)果（例如：低合金鋼）
?定期維護(hù)的工作量（火花臺(tái)清洗）減少8倍
?元素在低合金鋼中平均檢測(cè)限改善2倍，元素在純鋁中的平均檢測(cè)限改善5倍
?儀器的占地面積減少27%
?單一標(biāo)樣實(shí)現(xiàn)整個(gè)系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)化, 此項(xiàng)每天可節(jié)省30分鐘工作時(shí)間
1、獨(dú)立雙光室，確保所有分析譜線都獲得**分辨率。
SPECTROLAB S 配備兩套完整的光學(xué)系統(tǒng)。一個(gè)光室準(zhǔn)確測(cè)量波長(zhǎng)從120到240納米（nm）;另一個(gè)光室，波長(zhǎng)范圍從210到800納米（nm）。 兩個(gè)光室都采用良好的CMOS檢測(cè)器，具備恒溫裝置和壓力補(bǔ)償功能
2、等離子發(fā)生器數(shù)字光源和點(diǎn)火板
可靠的新型高能LDMOS等離子發(fā)生器光源，為SPECTROLAB S 輸出非常穩(wěn)定的火花放電，頻率*高1000 Hz。結(jié)果：*短的測(cè)量時(shí)間（例如：分析低合金鋼小于 20 秒）。該系統(tǒng)還允許特定應(yīng)用的火花參數(shù)設(shè)置，以優(yōu)化分析性能。
3、精密氬氣控制系統(tǒng)
SPECTROLAB S 采用全新程控流量。軟件根據(jù)分析程序精密設(shè)置氬氣流量。節(jié)約了氬氣消耗。氬氣閥體直接耦合到火花臺(tái)，無(wú)需管道連接。避免漏氣。
4、火花臺(tái)清理間隔大大延長(zhǎng)
堅(jiān)固的陶瓷內(nèi)芯避免積塵粘附。流暢的氣路設(shè)計(jì)確保了很少的粉塵殘留（使得清理間隔時(shí)間延長(zhǎng)了8倍）；對(duì)于大樣品量輸出的全自動(dòng)光譜儀系統(tǒng)尤為重要。
5、快速讀出系統(tǒng)
斯派克的GigE創(chuàng)新讀出系統(tǒng)確保海量數(shù)據(jù)的快速處理，從而支持**的儀器性能表現(xiàn)。實(shí)現(xiàn)了*的全光譜范圍譜圖記錄。
6、低檢出限。
SPECTROLAB S 采用的 CMOS+T技術(shù)，在關(guān)鍵元素的檢測(cè)限方面，超越光電倍增管技術(shù)的性能。通過(guò)配置**參比通道，工作曲線可以很大程度獲得優(yōu)化。可以快速定量分析ppm量級(jí)的高純金屬或合金中的痕量元素。
